X-RAY射線牛津儀器熒光光譜儀

品牌：牛津儀器     型號：MAXXI5    產(chǎn)地：英國

一、X-RAY射線牛津儀器熒光光譜儀功能

1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。
2. 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。
3. 鍍層層數(shù)：多至4層。
4. 測量點尺寸：0.06mm x 0.06mm、0.05mm x 0.15mm、φ0.1mm、φ0.2mm圓形或矩形
5. 測量時間：通常30秒。
6. 樣品zui大尺寸：600mm(W) x 500mm(D) x 170mm(H)
7. 測量誤差：通常小于5%，視樣品鍍層厚度及測試點大小等具體情況而定。
8. 可測厚度范圍：通常0.01微米到幾十微米，視樣品組成密度和鍍層結(jié)構(gòu)而定。

二、特點和數(shù)據(jù)

1. 采用基本參數(shù)法校準，可在無薄膜標樣情況下生成校準曲線以完成測量。
2. X射線采用從上至下的照射方式，即使是表面高低不一的樣品也可以正確測量。反之，如果是從下至上的照射方式，遇到表面凹凸的樣品，無法調(diào)整Z軸距離，導致測量光程的變化，引起測量的誤差。例如（舉例不同距離導致的誤差數(shù)據(jù)）。
3. 開放的校準模式，用戶可自行建立校準曲線不受儀器廠家限制。
4. 提供符合NIST美國國家標準技術(shù)協(xié)會要求，A2LA美國實驗室協(xié)會認證的標準樣品，可驗證測量結(jié)果并讓實驗數(shù)據(jù)具有可追溯性。
5. Windows 7操作系統(tǒng)，數(shù)據(jù)可存儲，轉(zhuǎn)移，并可一鍵生成包含測量數(shù)據(jù)、統(tǒng)計值、樣品圖片和趨勢圖等要素的報告（word格式）
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